TM Electronics測(cè)試儀器

  上海兆茗電子科技有限公司優(yōu)價(jià)銷售美國(guó)TM Electronics TM Electronics儀表儀器，TM Electronics測(cè)試儀器，TM Electronics閉塞機(jī)

美國(guó)TM Electronics www.tmelectronics.com美國(guó)麻薩諸塞州的TMElectronics， Inc.公司 是全世界最著名最專業(yè)的測(cè)漏儀、密封測(cè)試儀生產(chǎn)廠商之一。TME產(chǎn)品可以追溯到NIST的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，是全世界許多科研機(jī)構(gòu)、大學(xué)、企業(yè)進(jìn)行測(cè)漏檢測(cè)廣泛使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器，是測(cè)漏儀產(chǎn)品中的領(lǐng)航者。美國(guó)TM Electronics 檢漏儀

TM Electronics有限公司成立于1961，是一個(gè)制造商的金屬加工工業(yè)測(cè)量?jī)x器。

目前的校長(zhǎng)和投資者購(gòu)買(mǎi)了該公司在1981年及業(yè)務(wù)重新定性最初專注于醫(yī)療器械行業(yè)的測(cè)量需求。在隨后的幾年中，已開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品線以提高質(zhì)量和生產(chǎn)率在工業(yè)，醫(yī)藥，食品等制造業(yè)市場(chǎng)以及醫(yī)療設(shè)備制造商提供的測(cè)量設(shè)備。測(cè)試儀器集中在證明該產(chǎn)品的液體或氣體的完整性，以證明該產(chǎn)品的完整性。一個(gè)相關(guān)的產(chǎn)品線被銷售用于測(cè)試醫(yī)療設(shè)備的多孔和非多孔的包裝，某些類型的食物和藥品的密封強(qiáng)度或包裝的泄漏。最近的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)，包括線路的非破壞性測(cè)試系統(tǒng)靈活，無(wú)孔封閉的產(chǎn)品或包裝。

流量和包裝測(cè)試

TM電子（TME）生產(chǎn)自動(dòng)化，高科技的泄漏測(cè)試儀，泄漏和流量測(cè)試儀，包裝測(cè)試。 分辨率高，重復(fù)性好，可下載的，TME測(cè)試系統(tǒng)跨越泄漏和封裝測(cè)試的需求，為汽車，醫(yī)療設(shè)備，工業(yè)，食品，醫(yī)藥等行業(yè)的范圍。

封裝測(cè)試101

了解基本概念，如泄漏測(cè)試與封裝測(cè)試，泄漏率和泄漏的限制，壓力衰減與真空衰減泄漏測(cè)試儀，并在協(xié)商一致的標(biāo)準(zhǔn)和ASTM測(cè)試方法的價(jià)值。

聚光燈

新的CE認(rèn)證測(cè)試儀爆裂是專為醫(yī)療，制藥和食品包裝制造商，以幫助您滿足FDA和其他質(zhì)量要求以及生產(chǎn)和設(shè)計(jì)流程。 而B(niǎo)T的Integra-包裝是建立與智能特點(diǎn)，以提高USB連接，報(bào)告capabiltiies，易于編程，效率，導(dǎo)出和你的程序的整體質(zhì)量。

產(chǎn)品描述：

空氣泄漏測(cè)試開(kāi)發(fā)從一開(kāi)始作為一種無(wú)污染的替代不良的“泡沫”試驗(yàn)在水。氣動(dòng)測(cè)試，進(jìn)行TME，由壓力或真空衰減測(cè)試和質(zhì)量流量和背壓閉塞測(cè)試主要描述。TME的儀器被設(shè)計(jì)為敏感的測(cè)試方法和目標(biāo)文件的良好生產(chǎn)規(guī)范和ISO程序所需的輸出的要求，并符合ASTM試驗(yàn)方法。對(duì)科學(xué)技術(shù)的不斷演進(jìn)泄漏導(dǎo)致的TME測(cè)試儀器包括雙向以太網(wǎng)連接的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和通信能力的持續(xù)發(fā)展。

非破壞性的替代室泄漏試驗(yàn)壓力或真空衰變是一個(gè)不斷增長(zhǎng)的組成部分，TME的產(chǎn)品組合。測(cè)試系統(tǒng)主要是一個(gè)自定義的基礎(chǔ)設(shè)計(jì)最大限度地測(cè)試的靈敏度和可重復(fù)性。目前的系統(tǒng)操作的0.0001psi決議，可以檢測(cè)到泄漏小5-10微米。

密封強(qiáng)度與包裝的完整性測(cè)試，如iso-11607-1，是必不可少的測(cè)試流的其他類型的包裝的醫(yī)療裝置的包裝和重要的考慮因素，以及。TME包裝測(cè)試儀器的設(shè)計(jì)進(jìn)行使用相同的測(cè)試儀測(cè)試兩個(gè)流并提供測(cè)試結(jié)果的書(shū)面證據(jù)。非破壞性的替代室測(cè)試也適用于非多孔的，靈活的封裝測(cè)試和設(shè)置自定義的基礎(chǔ)上，專門(mén)設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)提供高分辨率感應(yīng)焊接密封，可重復(fù)的測(cè)試。

產(chǎn)品主要型號(hào)：TME BT-1000-100、TME BT-1000、TME BT-1000-005、Model 3000、Model 3000is、Model 5000is、Model R2、TS-01、TS-01HP、TS-02、TS-03、TS-04、RS-01/02/03、PA-02/03、LA-01、LA-03、LA-04、LA-05、DSF-xx、TAL-3.0、ETX-01、ABC-150-11

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