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北京華測試驗(yàn)儀器有限公司

主營:電壓擊穿試驗(yàn)儀
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[供應(yīng)]HCJDCS-B型 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
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  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:北京
  • 產(chǎn)品品牌:
  • 包裝規(guī)格:HCJDCS-B
  • 產(chǎn)品數(shù)量:10000
  • 計(jì)量單位:臺
  • 產(chǎn)品單價(jià):1
  • 更新日期:2014-09-29 09:11:19
  • 有效期至:2015-09-29
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HCJDCS-B型 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀 詳細(xì)信息

 

HCJDCS-B型 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

關(guān)鍵字:介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀,介電常數(shù)測試儀,介質(zhì)損耗測試儀廠家,介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀介紹

    HCJDCS-B介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》(等效采用IEC 60250)設(shè)計(jì)和制造的,并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。
            相關(guān)介紹

介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率,是表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù),常用ε表示。 介質(zhì)在外加電場時(shí)會產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場,原外加電場(真空中)與最終介質(zhì)中電場比值即為介電常數(shù)。其表示電介質(zhì)在電場中貯存靜電能的相對能力,例如一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中,場的強(qiáng)度會在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。介電常數(shù)還用來表示介質(zhì)的極化程度,宏觀的介電常數(shù)的大小,反應(yīng)了微觀的極化現(xiàn)象的強(qiáng)弱。氣體電介質(zhì)的極化現(xiàn)象比較弱,各種氣體的相對介電常數(shù)都接近1,液體、固體的介電常數(shù)則各不相同,而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關(guān)。

些物質(zhì)介電常數(shù)具有復(fù)數(shù)形式,其實(shí)部即為介電常數(shù),虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。

通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切,其可表示材料與微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料與微波的耦合能力就越強(qiáng)。例如當(dāng)電磁波穿過電解質(zhì)時(shí),波的速度被減小,波長也變短了。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀適用范圍

該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

     

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測定儀儀器技術(shù)參數(shù)

信號源頻率范圍      DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz

信號源頻率覆蓋比      6000:1

Q測量范圍              1-1000自動/手動量程

Q分辨率                  4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測量工作誤差      < 5%
信號源頻率精度    3X10 -5 ±1個字,6位有效數(shù)

電感測量范圍    15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH

電感測量誤差    < 5%

標(biāo)準(zhǔn)測量頻點(diǎn)    全波段任意頻率下均可測試

諧振點(diǎn)搜索    自動掃描

諧振指針    LCD顯示

調(diào)諧電容 主電容  30-500P

調(diào)諧電容誤差和分辨率      ±1.5P或< 1%

Q合格預(yù)置范圍 5-1000聲光提示

Q量程切換    自動/手動

LCD顯示參數(shù)  F,L,C,Q,波段等

電感9只;

夾具一套

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