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深圳一通檢測技術(shù)有限公司

主營:可靠性測試,化學(xué)環(huán)保,環(huán)境可靠性等等
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[供應(yīng)]FIB測試SEM測試品牌,FIB測試SEM測試排名,一通檢測
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  • 更新日期:2016-12-20 09:54:48
  • 有效期至:2017-06-18
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FIB測試SEM測試品牌,FIB測試SEM測試排名,一通檢測 詳細(xì)信息

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FIB測試,F(xiàn)IB檢測,

FIB 是英文 Focused Ion Beam的縮寫,依字面翻譯為聚焦離子束.簡單的說就是將Ga(鎵)元素離子化成Ga+, 然后利用電場加速.再利用靜電透鏡(electrostatic)聚焦,將高能量(高速)的Ga+打到指定的點. 基本原理與SEM類似,僅是所使用的粒子不同( e- vs. Ga +)FIB聚焦離子束是針對樣品進(jìn)行平面、界面進(jìn)行微觀分析。檢測流程包括:樣品制定、上機(jī)分析、拍照等,最后提供界面相片等數(shù)據(jù)。
主要用途:
1、電路修正, 用于驗證原型,改善bug,節(jié)省開支,增快上市時間。
2、縱面的結(jié)構(gòu)分析可直接于樣品上處理,不需額外樣品準(zhǔn)備。
3、材料分析-TEM樣品制備,用于精確定點試片制作,減低定點試片研磨所需人員經(jīng)驗的依賴。
4、電壓對比、用于判定Metal(Via/Contact)是否floating。
5、Grain(晶粒)形狀大小的判定

SEM測試,SEM檢測。

1. 原理 

SEM的工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關(guān),也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān),次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘?,再?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹?qiáng)度,顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象,反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。

2. 性能

設(shè)備能夠滿足可以觀察直徑為0~200mm(8〞wafer)的試樣。     

放大倍率:×5~×300,000

設(shè)備能夠滿足可以觀察直徑為0~200mm(8〞wafer)的試樣。     
放大倍率:×5~×300,000

深圳市一通檢測技術(shù)有限公司(簡稱TTS)是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測試、檢驗與驗證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗機(jī)構(gòu)。實驗室已取得中.國合格評定國家認(rèn)可委員會實驗室認(rèn)可證書(CNAS )、國家計量資質(zhì)認(rèn)定證書(CMA )和國際運(yùn)輸安全協(xié)會認(rèn)證(ISTA ),實驗室依照國際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025:2005《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求》管理和運(yùn)行,具備向社會出具公正性檢測報告的資格。

一. 環(huán)境可靠性檢測:1.其中氣候環(huán)境包含:高低溫試驗,交變溫濕熱(溫變1-2℃/min),快速溫度循環(huán)試驗(溫變最快20℃/min),溫度沖擊試驗,高溫高濕試驗,恒定濕熱試驗,鹽霧腐蝕試驗(中性鹽霧、醋酸鹽霧、同加速乙酸鹽霧、交變鹽霧),防塵防水檢測(IP等級測試)(防塵試驗IP1X-6X、防水試驗IPX1-X8),IK等級測試、低氣壓試驗,高壓蒸煮試驗(HAST),人工汗液測試,氣體腐蝕試驗,耐焊接熱,沾錫性,UL94阻燃試驗,UV老化試驗(熒光紫外燈),太陽輻射試驗(氙燈老化、鹵素?zé)簦┑鹊龋?o:p>

2.其中機(jī)械環(huán)境包含:振動試驗(隨機(jī)振動,正掃頻振動,定頻振動),模擬汽輸車運(yùn)試驗,碰撞試驗,機(jī)械沖擊試驗(半正弦波、方波、后峰鋸齒波),跌落試驗(1m和1.5m),G值跌落,滾筒跌落試驗(0.5m和1m),斜面沖擊試驗,堆碼壓力試驗,水平擠壓試驗,溫濕度+振動三綜合試驗,高加速壽命試驗(HALT),高加速應(yīng)力篩選(HASS、HASA),插拔壽命試驗(插拔力、拔出力),鋼球沖擊試驗,按鍵壽命試驗,點劃壽命試驗,軟壓試驗、搖擺試驗,鉛筆硬度測試,耐磨擦測試,

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