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    三次元測(cè)量?jī)x圓柱的測(cè)量。在每個(gè)測(cè)量截面采集大量數(shù)據(jù)點(diǎn)，可以更精確地確定圓柱的形狀和軸，并可以評(píng)價(jià)關(guān)鍵尺寸形狀特征，如最大和最小特征尺寸等，以支持工件的擬合分析。 
    三次元測(cè)量?jī)x孔的測(cè)量?？焖賿呙璞硎驹趲酌腌娭畠?nèi)可以獲取大量的數(shù)據(jù)點(diǎn)，這使得孔特征的完整描述，如位置、尺寸和形狀等成為可能，并可確保高精度和重復(fù)性。另外，還可以模擬塞規(guī)和環(huán)規(guī)的尺寸，為與該孔適配的大直徑的工件提供可靠的計(jì)算。
    三次元測(cè)量?jī)x平面的測(cè)量。掃描可以為評(píng)價(jià)形狀誤差和排列工件提供更多數(shù)據(jù)點(diǎn)，而所用的時(shí)間比傳統(tǒng)的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)方法少很多，結(jié)果是組裝的精度提高，可在總體測(cè)量精度的提高上體現(xiàn)出來。
    按照通常的比較測(cè)量方法允許具備同樣標(biāo)稱長(zhǎng)度的量塊進(jìn)行測(cè)量，提高測(cè)量條件，使得測(cè)量不確定度更小，減少了系統(tǒng)誤差，降低了由于上測(cè)頭和比較的量塊在長(zhǎng)度上魚叉影像。

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